系統介紹:

  ci220 是新一代的非接觸(Contactless Reader))與接觸( Contact Reader)測試系統，它設置於生產線時，分散式的設計提供最大彈性化的配置。它開創性的架構提供最快的測試速度及平行多工測試。

  它擁有全面性的測試工作彈性化。生產線測試程式的更換可以在數秒內完成，任何24隻接觸針腳(contact pin)都能夠執行任何的介面或電氣測試。使用者可以同時使用32個測試頭(test heads)； 任何測試頭皆可同時使用接觸式、非接觸式或兩者。

  一個開發套件(SDK)包含一個機櫃，經由控制器管理的兩個雙介面測試頭，讓它能在場地的軟體環境下進行運作。從簡單的功能性測試到電容或消耗性量測，所有這些功能都由測試機台提供，來滿足客戶的測試計畫。

  不管任何的應用，現有的多種通訊協定都支援，且可以全部同時使用。包括ISO 7816 (T=0 and T=1), I2C, I3C, SPI, ISO 14443 及 ISO 15693等國際規範。Ci200強大的架構，簡化了微模組測試站 (micro module handler)的主機電腦的整合工作。Ci200的控制器能即時交付測試及預先客製化的資訊，所以在輸入及輸出的品質控制已經達到最佳化。

架構的優勢     全新系統架構創造高最快測試速度      無需外部多工器即可將邏輯重新指派給相同引腳      所有介面均可平行操作 支援之國際標準      接觸式: ISO7816, I2C, SPI, I3C, SWP      非接觸式:ISO14443A/B,15693,18092

測試系統輸出/輸入介面     單模組擁有2個雙介面測試頭     2 x RF in/out – Coax Bus     2 x RF in (50Ω) – Coax Bus      2 x Contact interface (24 pins each) – Coax Bus      Coax cables for RF & contact      Up to 1m cable length to test head