系統介紹:

  我們的ci220結合了最先進的 FPGA 和測量技術，能夠快速、精確和可靠的接觸測試、開發和除錯。是一個劃時代的接觸是介面測試工具;由快速的訊號產生器(signal generation)及資料擷取系統介面，藉由一個精心設計的類比電路到智慧卡所搭建而成。 它內建現場可程式化邏輯閘陣列(FPGA)結合數位通訊協定(protocol)運作，重現性的精準循環(repeatable cycle-accurate)，精準的即時處理類比訊號。

  Ci220的任意波行產生器(arbitrary waveform generator)的優越性能及類比電路，能夠全面性的控制所有的電器訊號參數，如VCC的高低電壓、升壓及降壓時間、 時脈頻率(clock frequency)、工作週期(duty cycle)。這讓ci220能夠闡述符合性及認證(compliance and certification)測試，就如同晶片驗證(chip validation)一樣。

Ci220強大的電氣及通訊協定處理能力是延續ci230的使用者介面，專注於性能及實用性。 遵循 EMV contact L1 Analog and Digital最新規範EMV Contact Interface Specification V1.0 Oct. 2022，開發最新之測試案例(Test Case),包括

EMV_Card_L1_Electrical_Test Cases_v10a_20231215 Dec. 2023

EMVCo_Card_L1_Protocol_Test Cases_v10a_20231215 Dec. 2023

應用場景     EMV支付      SIM & eSIM      智能卡      認證測試      研發及除錯      客製化設計

支援之國際標準     EMV Contact L1      ISO 7816      ETSI TS 102 221